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便攜式現場PID測試儀（電位誘發衰減）測試儀，適用於不同類型和尺寸的晶體矽組件，無需拆裝，測試時間在8小時之內（測量時間將少於8小時）。PIDcheck是與德國Fraunhofer CSP Halle合作開發的。